@article { author = {Soltani firooz, Mahmood and Alimardani, Reza and Omid, Mahmood}, title = {A Feasibility Study of Employing a Capacitance Based Method in Banana Ripeness Recognition}, journal = {Iranian Journal of Biosystems Engineering}, volume = {42}, number = {1}, pages = {21-27}, year = {2011}, publisher = {دانشگاه تهران}, issn = {2008-4803}, eissn = {2423-7841}, doi = {}, abstract = {Grading of agricultural products has always been a subject of research by scientists. One of the criteria to be chosen for grading of fruits is the fruit's level of ripeness. Different methods have been employed to assess the status of fruit ripeness some of which are destructive and others are not so. In this research, a noninvasive capacitive method was used to estimate the ripeness level in banana fruit. The relationship between levels of ripeness and dielectric constant were studied over the frequency range of 1 kHz to 10 MHz. Results revealed that the dielectric constant is severely influenced by the dimension and weight of the fruit. To eliminate the interfering effects of these parameters, a second model was proposed to predict the dielectric constant of banana fruit. This model is a function of equivalent dielectric constant, volume, effective length as well as width of the fruit. The dielectric constant showed a decrease with increase in the ripeness of the banana fruit. Since the decrease was more distinct at the 1 MHz, this frequency was employed to calibrate the system. The firmness was assessed also as a quality index and the relationship between dielectric constant and firmness also studied. The results of prediction were somehow acceptable with the correlation coefficient between the predicted vs. the real ripeness obtained as 0.853.}, keywords = {.,banana,Capacitance based sensor,frequency,ripening}, title_fa = {امکان‌سنجی استفاده از روش خازنی در تشخیص رسیدگی موز}, abstract_fa = {درجه‌بندی محصولات کشاورزی همواره موضوع تحقیق دانشمندان بوده است. یکی از زمینه‌های مورد مطالعه درجه‌بندی میوه براساس میزان رسیدگی آن است. روش‌های مختلفی برای تشخیص میزان رسیدگی میوه به کار گرفته شده است که بعضی از این روش‌ها مخرب و برخی دیگر غیر مخرب هستند. در این تحقیق از روش غیرمخرب خازنی برای تشخیص میزان رسیدگی میوه‌ی موز استفاده شده است. رابطه میزان رسیدگی با ثابت دی‌الکتریک میوه در بسامد یک کیلوهرتز تا 10 مگاهرتز بررسی شد. نتایج نشان داد که ثابت دی‌الکتریک میوه به شدت تحت تاثیر ابعاد و حجم میوه قرار دارد. به منظور حذف اثرات این متغیرها مدلی برای تخمین ثابت دی‌الکتریک میوه پیشنهاد شد. این مدل تابعی از ثابت دی‌الکتریک معادل، حجم میوه، طول موثر و ضخامت میوه می‌باشد. ثابت دی‌الکتریک با افزایش رسیدگی میوه کاهش پیدا می‌کند. در بسامد یک مگاهرتز این کاهش واضح‌تر است. از این بسامد برای واسنجی سامانه استفاده شد. استحکام میوه به عنوان یک شاخص کیفی اندازه‌گیری و رابطه بین استحکام و ثابت دی‌الکتریک میوه بررسی شد. نتایج پیش‌بینی مقدار رسیدگی تقریباً قابل قبول بود. ضریب همبستگی بین میزان رسیدگی واقعی میوه و مقدار پیش‌بینی شده 853/0 به دست آمد.}, keywords_fa = {بسامد,حسگر خازنی,رسیدگی,موز}, url = {https://ijbse.ut.ac.ir/article_23113.html}, eprint = {https://ijbse.ut.ac.ir/article_23113_578810c7655862e993ec507cc5ee16a5.pdf} }